SPECTRO   ARCOS具備一系列市場早已認可的特點和優勢，比如具有功率的增強型固態等離子體發生器、無需吹掃光路 的UV-PLUS密閉氬氣凈化技術以及無需外部冷卻循環水的空冷 技術。

它的工作站軟件直觀易用，速度快，方法可追溯。新款主機都采用了人體工程學設計，可操作性得到大幅提高：設置簡單、樣品 容易導入、日常維護保養更便捷。

SPECTRO ARCOS凝聚了德國斯派克分析儀器公司40多年的制 造經驗和專業技術，是我公司目前比較好的產品。

杰出的分辨率和靈敏

SPECTRO  ARCOS提供了業界較寬的波 長范圍，并確保全程高分辨率，能輕松分 離譜線密集區的相鄰譜線，較大程度減少光譜干擾，簡化方法開發并提高準確度。憑借直接光路的結構設計，該系統具 有前列的靈敏度，尤其是在遠紫外區和 紫外區(VUV/UV) ，這一特點對于高純金屬或材料科學中的亞ppm含量(原始固 體樣品含量) 的雜質元素分析應用至關重要。

使用體驗更佳

在充分研究了客戶反饋的意見后，我們極大地提升儀器的易操作性，比如新的智能閥進樣系統(選配) 縮短了進樣時間；新型盒式蠕動泵簡化了樣品導入并優化了泵管壓力；視頻套件(選配) 允許用戶遠程監控儀器運行以及時發現問 題；工作站軟件簡單、直觀、快速且數據完全可追溯。

選型靈活度更高

同步雙觀測(DSOI) 方式的靈敏度是傳統徑向觀測的兩倍，并且硬件復雜程度和零配件成本都比市場上垂直炬管雙觀測結構的產品更優異。另外，MultiView型號則讓用戶能在三種觀測方向之間自由切換：軸向、徑向觀測以及徑向同步雙觀測。

更快的分析速度

其他光譜儀可能很難一分鐘完成一次包含所有步驟的完整的樣品分析，但SPECTRO   ARCOS不同，其全譜直讀的工作方式和強大穩定的等離子體發生器、高速信號讀出電路能在短短數秒內完成基體相對簡單的樣品的測試。無論基體復雜性如何，用戶都可以在更短的時間內分析更多樣品。

堅如磐石的穩定性

憑借通過熱穩定和機械穩定測試的光學元件、高功率發生器、以及全質量流量控制的氣路，SPECTRO  ARCOS  極大地提升了等離子體 的穩定性，消除了漂移，可以始終提供可靠的分 析結果。該儀器對樣品負載的變化適應性很強， 能很輕松地對付高揮發性有機樣品和高鹽類樣品。

更低的使用成本

SPECTRO ARCOS 的匠心設計降低了儀器的長期使用成本：專有的風冷技術無需配置循環冷卻水，既節省了采購開支，又避免了對水冷裝置的長期維護；相比于其他同類產品需對紫外區光路持續吹掃，ARCOS的密封閉充氬光學系統每年可節省數千美元的氣體消耗成本。

動態 DSOI

SPECTRO ARCOS將SPECTROGREEN ICP上的垂直同步雙觀測 (DSOI) 技術移植到SPECTRO ARCOS，使這款產品具有更高的靈敏度和更靈活的配置。

DSOI的是一種增強型垂直等離子體徑向觀測技術，兩個光學接口捕獲等離子體兩側發出的光，有效提高了靈敏度，并消除了市場上其他垂直炬管雙觀測模式可能存在的污染、基體耐受等問題。DSOI的靈敏度是傳統徑向觀測系統的兩倍，并且沒有通常的垂直炬雙觀測結構的的復雜性和高成本，因此，用戶能獲得基體效應低、線性范圍寬的好處，一次性解決各種類型樣品。DSOI的結構在諸多精細化學、地質、環境和科研樣品分析中作用明顯。

MultiView出奇制勝

眾所周知軸向等離子觀測靈敏度高，常用于痕量分析；徑向等離子觀測則非常適合高基體和有機樣品。SPECTRO ARCOS的MultiView 結構，操作人員能在90秒內將炬管從徑向切換成軸向，反之亦然！

為了提高配置的靈活性，MultiView現在還提供了DSOI選項。只需幾分鐘，用戶就能簡單地完成結構切換，從軸向觀測轉變成徑向觀測。

所有的切換都更快速、更簡單，軟件會自動識別各種模式。

如果無需DSOI及MultiView的機型，用戶可選擇標準的SPECTRO ARCOS垂直炬管徑向等離子觀測 (SOP) 版本。經典的徑向、單側觀 測接口，可確保良好的數據穩定性和精密度。

帕邢-龍格 (ORCA) 光學系統

SPECTRO ARCOS采用斯派克優化的帕邢-龍格(ORCA)光學系統， 有效規避了市場上其他光譜儀基于中階梯光柵+棱鏡色散結構的 問題，減少了反射鏡的使用，提供更直接、高亮度的光路，較大程度減少了光損失。

鑒于此種光學結構，SPECTRO  ARCOS可在130至770納米  (nm) 的寬光譜范圍內提供穩定的分辨率，并具有180 nm以下業內較佳的透光度。更寬的波長范圍使用戶做方法開發時更容易，特別是分析譜線密集的高純金屬基體樣品，數據準確度更高。

然后，SPECTRO ARCOS配備了全新的不銹鋼防腐炬室，實現了等離子體更好的性能。

CMOS檢測器

SPECTRO ARCOS配置了新型互補金屬氧化物半導體(CMOS)整列 檢測器，這一檢測器的性能遠超傳統的電荷耦合(CCD)檢測器。

即使在極端光強下，CMOS技術也完全消除了過度曝光，仍然可讀 取痕量元素的弱信號，不受相鄰的強度高譜線的影響，實現更寬的 動態范圍，覆蓋從熱等離子體到低溫等離子體應用。檢測器無需冷 卻，即使陣列中某段出現故障，其他部分仍能正常運行，單單更換 陣列中某段的成本明顯低于必須整塊更換的CCD檢測器。

高速信號讀取

結合大功率等離子體發生器(見下文) 和處理電路，新的GigE讀出系 統可在100毫秒內記錄并傳輸全光譜，超快的信號處理速度可以顯 著縮短樣品分析時間。

SPECTRO ARCOS的同步處理電路還能夠應對瞬態信號挑戰，如果客 戶配備了電熱蒸發 (ETV) 或激光燒蝕系統導入樣品，儀器可實現每秒 10次全光譜范圍的信號采集。

業界功率較高的等離子體發生器

SPECTRO  ARCOS配備2000W固態橫向擴散金屬氧化物半導體 (LDMOS) 發生器，采用風冷方式，無需額外購買和長期維護冷卻循 環水，能在10分鐘內完成預熱，大幅提高使用效率。

發生器結構堅固，能快速自動調整以適應樣品負載的變化，保持穩 定的等離子體。因此，SPECTRO   ARCOS能輕松對付高揮發性有機 樣品和高鹽樣品。

無需氣體吹掃

和其他ICP-OES的光路系統設計不同，SPECTRO  ARCOS無需成本高 昂的連續氬氣吹掃，其中免吹掃UV-PLUS技術在填充氬氣 的密封光路系統中配備了一個小型凈化管(至少可使用2年) ，因此， 光路系統不會受到污染，整機預熱時間短，每年還可節省約2-3萬人 民幣的氣體消耗。

精確控制氣體流速

很多ICP-OES儀器會在某些地方使用簡單的開/關電磁閥來調節氣 體流量，無法精確控制，測試數據精密度受影響。SPECTRO  ARCOS 中的所有氣體流量都完全由軟件操作，快速、精確、超穩定。